|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 154 van 155 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray image denoising with fast non-local means (FNLM) approach using acceleration function in CdTe semiconductor photon counting detector (PCD): Monte Carlo simulation study |
| Auteur: |
Lee, Youngjin |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 172 (2018) nr. C pagina's 456-461 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 154 van 155 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |