|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 76 van 84 gevonden artikelen
| Titel: |
Temperature dependent electrical characterization of RF sputtered MoS2/n-Si heterojunction |
| Auteur: |
Ocak, Yusuf Selim Bozkaplan, Cihat Ahmed, Honar Salah Tombak, Ahmet Genisel, Mustafa Fatih Asubay, Sezai |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 142 (2017) nr. C pagina's 644-650 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 76 van 84 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |