|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 70 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
Improved accuracy in slope measurement and defect detection using Fourier fringe analysis |
| Auteur: |
Dhanotia, Jitendra Disawal, Reena Bhatia, Vimal Prakash, Shashi |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 140 (2017) nr. C pagina's 921-930 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 70 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |