|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 106 van 132 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation analysis of the aluminum thin film thickness measurement by using low energy electron beam |
| Auteur: |
Movla, Hossein Babazadeh, Mohammad |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 125 (2014) nr. 1 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier GmbH |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 106 van 132 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |