|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
A feature dependent Naive Bayes approach and its application to the software defect prediction problem |
| Auteur: |
Arar, Ömer Faruk Ayan, Kürşat |
| Verschenen in: |
Applied soft computing |
| Paginering: | Jaargang 59 (2017) nr. C pagina's 197-209 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |