|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Evolutionary computation-based reliability quantification and its application in big data analysis on semiconductor manufacturing |
| Auteur: |
Xu, Qiao Yu, Naigong Hasan, Mohammad Mehedi |
| Verschenen in: |
Applied soft computing |
| Paginering: | Jaargang 136 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |