|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 79 gevonden artikelen
| Titel: |
A deep residual neural network for semiconductor defect classification in imbalanced scanning electron microscope datasets |
| Auteur: |
López de la Rosa, Francisco Gómez-Sirvent, José L. Morales, Rafael Sánchez-Reolid, Roberto Fernández-Caballero, Antonio |
| Verschenen in: |
Applied soft computing |
| Paginering: | Jaargang 131 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 79 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |