Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 48 van 55 gevonden artikelen
 
 
  Reliability assessment based on time waveform characteristics with small sample: A practice inspired by few-shot learnings in metric space
 
 
Titel: Reliability assessment based on time waveform characteristics with small sample: A practice inspired by few-shot learnings in metric space
Auteur: Li, Kejie
Cheng, Lingyun
Lyu, Zengwei
Xiang, Nianwen
Verschenen in: Applied soft computing
Paginering: Jaargang 115 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 48 van 55 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland