|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
The use of XPS, FTIR, SEM/EDX, contact angle, and AFM in the characterization of coatings |
| Auteur: |
Walzak, M. J. Davidson, R. Biesinger, M. |
| Verschenen in: |
Journal of materials engineering and performance |
| Paginering: | Jaargang 7 () nr. 3 pagina's 317-323 |
| Jaar: |
2007-09-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 41 gevonden artikelen
| << vorige |