|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 52 van 66 gevonden artikelen
| Titel: |
On the Issue of Crack Formation in a Thin Dielectric Layer on Silicon under Thermal Shock |
| Auteur: |
Skvortsov, Arkadiy A. Koryachko, Marina V. Skvortsov, Pavel A. Lukâyanov, Mikhail N. |
| Verschenen in: |
Journal of materials engineering and performance |
| Paginering: | Jaargang 29 () nr. 7 pagina's 4390-4395 |
| Jaar: |
2020-07-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 52 van 66 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |