|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization and Adhesion in Cu/Ru/SiO2/Si Multilayer Nano-scale Structure for Cu Metallization |
| Auteur: |
Chawla, N. Venkatesh, S. H. Singh, D. R. P. Alford, T. L. |
| Verschenen in: |
Journal of materials engineering and performance |
| Paginering: | Jaargang 22 (2012) nr. 4 pagina's 1085-1090 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |