|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 760 van 871 gevonden artikelen
| Titel: |
The depth profile of high-dose low-mass ions implanted into higher mass substrate by RBS analysis |
| Auteur: |
Yin Shi-duan, Zhang Jing-ping, Gu Quan, Liu Shi-jie, Xie Bao-zhan, Ma Tie-liang, Qu Zhen-yuan, |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research |
| Paginering: | Jaargang 191 (1981) nr. 1-3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1981 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 760 van 871 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |