|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 87 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profiling and diffusion of 22Ne implanted in tantalum by (p, γ) resonance broadening |
| Auteur: |
Da Silva, M.F. Melo, A.A. Freitag, K. Soares, J.C. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research |
| Paginering: | Jaargang 209-210 (1983) nr. P2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 87 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |