|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 448 van 821 gevonden artikelen
| Titel: |
High-resolution Rutherford backscattering spectrometry and the analysis of very thin silicon nitride layers |
| Auteur: |
Tamminga, Y. Willemsen, M.F.C. Habraken, F.H.P.M. Kuiper, A.E.T. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research |
| Paginering: | Jaargang 200 (1982) nr. 2-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1982 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 448 van 821 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |