|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 204 van 228 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of radiation effects of heavy ions in microelectronic devices |
| Auteur: |
Geschke, O. Röcher, H. Noll, A. Dreute, J. Wiegel, B. Hirzebruch, S. Heinrich, W. Sorensen, R.Harboe Adams, L. Vetter, J. |
| Verschenen in: |
International journal of radiation, applications and instrumentation. Part D, Nuclear tracks and radiation measurements |
| Paginering: | Jaargang 19 (1991) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1991 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 204 van 228 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |