|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface structure analysis of Si(111) 3 × 3 −Bi by X-ray diffraction — Approach to the solution of the phase problem |
| Auteur: |
Takahashi, Toshio Nakatani, Shinichiro Ishikawa, Tetsuya Kikuta, Seishi |
| Verschenen in: |
Surface science letters |
| Paginering: | Jaargang 191 (1987) nr. 3 pagina's nvt p. |
| Jaar: |
1987 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |