|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
A secondary ion mass spectometry study of the desorption mechanisms of F+ from a LiF surface bombarded with Ar+ and Ar2+ |
| Auteur: |
Thompson, Patrick M. Taylor, James W. |
| Verschenen in: |
Surface science letters |
| Paginering: | Jaargang 176 (1986) nr. 3 pagina's 1 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |