|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
Carrier Activation at End-of-Range (EOR) Defects and Grain Boundaries in Boron-Doped Silicon |
| Auteur: |
Li, Yi-Yao Yang, Yu-Chen Chou, Tung-Huan Huang, Yu-Lin Chang, Chia-He Hsu, Ya-Lan Lin, Kun-Lin |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 54 () nr. 3 pagina's 2211-2218 |
| Jaar: |
2025-01-14 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |