|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect Characterization of HfTiOx Gate Dielectrics on SiGe Heterolayers Using Inelastic Tunneling Spectroscopy |
| Auteur: |
Maiti, Partha Pratim Mukherjee, C. Bag, A. Mallik, S. Maiti, C. K. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 54 () nr. 1 pagina's 747-757 |
| Jaar: |
2024-11-16 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |