|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Ab Initio Materials Modeling of Point Defects in a High-κ Metal Gate Stack of Scaled CMOS Devices: Variability Versus Engineering the Effective Work Function |
| Auteur: |
Pandey, Rajan Kumar |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 53 () nr. 10 pagina's 6303-6321 |
| Jaar: |
2024-08-07 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 75 gevonden artikelen
| volgende >> |