Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 42 van 75 gevonden artikelen
 
 
  Inelastic X-ray Scattering Measurement on Single-Crystalline GeSn Thin Film
 
 
Titel: Inelastic X-ray Scattering Measurement on Single-Crystalline GeSn Thin Film
Auteur: Chino, M.
Yokogawa, R.
Ogura, A.
Uchiyama, H.
Tatsuoka, H.
Shimura, Y.
Verschenen in: Journal of electronic materials
Paginering: Jaargang 52 () nr. 8 pagina's 5128-5133
Jaar: 2023-05-08
Inhoud:
Uitgever: Springer US, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 42 van 75 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland