|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the Impact of Interface Trap Charges on the Analog/RF Performance of a Graphene Nanoribbon Vertical Tunnel FET |
| Auteur: |
Liana, Zohming Choudhuri, Bijit Bhowmick, Brinda |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 52 () nr. 10 pagina's 6825-6839 |
| Jaar: |
2023-08-04 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |