|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
Fabrication and Electrical Characterization of Ti/p-Si Metal Semiconductor Schottky Structures at Low Temperature |
| Auteur: |
Asil Uğurlu, H. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 51 () nr. 12 pagina's 7164-7172 |
| Jaar: |
2022-09-30 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |