|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Automatic Detection of Basal Plane Dislocations in a 150-mm SiC Epitaxial Wafer by Photoluminescence Imaging and Template-matching Algorithm |
| Auteur: |
Harada, Shunta Tsujimori, Kota Matsushita, Yosuke |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 51 () nr. 1 pagina's 243-248 |
| Jaar: |
2021-11-03 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |