|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 44 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Microstructural Characterization of Multilayer Metal Stack on InGaAs/InP Contact |
| Auteur: |
Hsu, Chih-Lin Wu, Yewchung Sermon Chen, Szu-Hung Lin, Kun-Lin |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 49 () nr. 8 pagina's 4659-4670 |
| Jaar: |
2020-05-28 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 44 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |