|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Dislocations in CdZnTe Epitaxial Film with Kelvin Probe and Conductive Atomic Force Microscopy |
| Auteur: |
Cao, Kun Jie, Wanqi Zha, Gangqiang Dong, Jiangpeng Hu, Ruiqi Li, Yang |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 49 () nr. 6 pagina's 3907-3912 |
| Jaar: |
2020-04-05 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |