Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 85 van 85 gevonden artikelen
 
 
  Uniformity of Gate Dielectric for I/O and Core HK/MG pMOSFETs with Nitridation Treatments
 
 
Titel: Uniformity of Gate Dielectric for I/O and Core HK/MG pMOSFETs with Nitridation Treatments
Auteur: Chou, Ching-Chuan
Shen, Tien-Szu
Chen, Jian-Ming
Chang, Cheng-Hsun-Tony
Wang, Shea-Jue
Lan, Wen-How
Wang, Mu-Chun
Verschenen in: Journal of electronic materials
Paginering: Jaargang 49 () nr. 11 pagina's 6764-6775
Jaar: 2020-05-29
Inhoud:
Uitgever: Springer US, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 85 van 85 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland