Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 85 gevonden artikelen
 
 
  Anode-Side Failure of a Cuprous Oxide Semiconductor Caused by High-Density Current Loading
 
 
Titel: Anode-Side Failure of a Cuprous Oxide Semiconductor Caused by High-Density Current Loading
Auteur: Moriwaki, Takeshi
Sasagawa, Kazuhiko
Sugawara, Yusuke
Fujisaki, Kazuhiro
Mineta, Takahiro
Verschenen in: Journal of electronic materials
Paginering: Jaargang 48 (2019) nr. 11 pagina's 6949-6953
Jaar: 2019
Inhoud:
Uitgever: Springer US, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 85 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland