|
Atomic Layer Deposition (ALD) to Mitigate Tin Whisker Growth and Corrosion Issues on Printed Circuit Board Assemblies |
|
|
|
Titel: |
Atomic Layer Deposition (ALD) to Mitigate Tin Whisker Growth and Corrosion Issues on Printed Circuit Board Assemblies |
Auteur: |
Kutilainen, Terho Pudas, Marko Ashworth, Mark A. Lehto, Tero Wu, Liang Wilcox, Geoffrey D. Wang, Jing Collander, Paul Hokka, Jussi |
Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
Paginering: |
Jaargang 48 (2019) nr. 11 pagina's 7573-7584 |
Jaar: |
2019 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer US, New York |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|