|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative Correlation between Electrical Resistivity and Microhardness of Cu-Ni-Mo Alloys via a Short-Range Order Cluster Model |
| Auteur: |
Li, Hongming Dong, Chuang Zhao, Yajun Li, Xiaona Zhou, Dayu |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 48 (2018) nr. 1 pagina's 312-320 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |