|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Microstructural Characterization of Defects and Chemical Etching for HgCdSe/ZnTe/Si (211) Heterostructures |
| Auteur: |
Vaghayenegar, M. Doyle, K. J. Trivedi, S. Wijewarnasuriya, P. Smith, David J. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 48 (2018) nr. 1 pagina's 571-582 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |