|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of Post-annealing Processes on Filamentary-Based Resistive Switching Mechanism of Chromium Oxide Thin Films |
| Auteur: |
Pham, Ngoc Kim Ta, Kieu Hanh Thi Tran, Vinh Cao Le, Van Hieu Nguyen, Bao Thu Le Ju, Heong Kyu Seetawan, Tosawat Phan, Bach Thang |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 46 (2017) nr. 6 pagina's 3285-3294 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |