|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 82 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of Remote Oxygen Scavenging on Electrical Properties of Ge-Based Metal–Oxide–Semiconductor Capacitors |
| Auteur: |
Fadida, Sivan Nyns, Laura Elshocht, Sven Van Eizenberg, Moshe |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 46 (2016) nr. 1 pagina's 386-392 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 82 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |