|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Band Offset Characterization of the Atomic Layer Deposited Aluminum Oxide on m-Plane Indium Nitride |
| Auteur: |
Jia, Ye Wallace, Joshua S. Qin, Yueling Gardella, Joseph A. Dabiran, Amir M. Singisetti, Uttam |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 45 (2015) nr. 4 pagina's 2013-2018 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |