|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 108 gevonden artikelen
| Titel: |
Consistency of ZT-Scanner for Thermoelectric Measurements from 300 K to 700 K: A Comparative Analysis Using Si80Ge20 Polycrystalline Alloys |
| Auteur: |
Vasilevskiy, D. Simard, J.-M. Caillat, T. Masut, R. A. Turenne, S. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 45 (2015) nr. 3 pagina's 1540-1547 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 108 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |