|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of Rapid Thermal Processing on Light-Induced Degradation of Carrier Lifetime in Czochralski p-Type Silicon Bare Wafers |
| Auteur: |
Kouhlane, Y. Bouhafs, D. Khelifati, N. Belhousse, S. Menari, H. Guenda, A. Khelfane, A. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 45 (2016) nr. 11 pagina's 5621-5625 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |