|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 52 van 100 gevonden artikelen
| Titel: |
Interfacial Characterizations of a Nickel-Phosphorus Layer Electrolessly Deposited on a Silane Compound-Modified Silicon Wafer Under Thermal Annealing |
| Auteur: |
Lai, Kuei-Chang Wu, Pei-Yu Chen, Chih-Ming Wei, Tzu-Chien Wu, Chung-Han Feng, Shien-Ping |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 45 (2016) nr. 10 pagina's 4813-4822 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 52 van 100 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |