|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of V-shaped Defects in 4H-SiC Homoepitaxial Layers |
| Auteur: |
Wu, Fangzhen Wang, Huanhuan Raghothamachar, Balaji Dudley, Michael Chung, Gil Zhang, Jie Thomas, Bernd Sanchez, Edward K. Mueller, Stephan G. Hansen, Darren Loboda, Mark J. Zhang, Lihua Su, Dong Kisslinger, Kim Stach, Eric |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 44 (2014) nr. 5 pagina's 1293-1299 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |