|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 110 van 110 gevonden artikelen
| Titel: |
Validation of the Dynamic Recrystallization (DRX) Mechanism for Whisker and Hillock Growth on Sn Thin Films |
| Auteur: |
Vianco, P. T. Neilsen, M. K. Rejent, J. A. Grant, R. P. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 44 (2015) nr. 10 pagina's 4012-4034 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 110 van 110 gevonden artikelen
| << vorige |