|
Defects Study in HgxCd1−xTe Infrared Photodetectors by Deep Level Transient Spectroscopy |
|
|
|
Titel: |
Defects Study in HgxCd1−xTe Infrared Photodetectors by Deep Level Transient Spectroscopy |
Auteur: |
Rubaldo, Laurent Brunner, Alexandre Berthoz, Jocelyn Péré-Laperne, N. Kerlain, A. Abraham, P. Bauza, D. Reimbold, G. Gravrand, Olivier |
Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
Paginering: |
Jaargang 43 (2014) nr. 8 pagina's 3065-3069 |
Jaar: |
2014 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer US, Boston |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|