|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 69 van 69 gevonden artikelen
| Titel: |
Transmission Electron Microscopy-Based Analysis of Electrically Conductive Surface Defects in Large Area GaSb Homoepitaxial Diodes Grown Using Molecular Beam Epitaxy |
| Auteur: |
Romero, O.S. Aragon, A.A. Rahimi, N. Shima, D. Addamane, S. Rotter, T.J. Mukherjee, S. D. Dawson, L.R. Lester, L.F. Balakrishnan, G. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 43 (2014) nr. 4 pagina's 926-930 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 69 van 69 gevonden artikelen
| << vorige |