|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 38 van 69 gevonden artikelen
| Titel: |
Material Characterization of Ge1−xSnx Alloys Grown by a Commercial CVD System for Optoelectronic Device Applications |
| Auteur: |
Mosleh, Aboozar Ghetmiri, Seyed Amir Conley, Benjamin R. Hawkridge, Michael Benamara, Mourad Nazzal, Amjad Tolle, John Yu, Shui-Qing Naseem, Hameed A. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 43 (2014) nr. 4 pagina's 938-946 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 38 van 69 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |