|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 69 gevonden artikelen
| Titel: |
A Comparison of the Microwave Photoconductivity Decay and Open-Circuit Voltage Decay Lifetime Measurement Techniques for Lifetime-Enhanced 4H-SiC Epilayers |
| Auteur: |
Brunt, Edward Van Agarwal, Anant Burk, Al Cheng, Lin O’Loughlin, Michael Palmour, John Suvorov, Alexander |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 43 (2013) nr. 4 pagina's 809-813 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 69 gevonden artikelen
| volgende >> |