|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Dynamics of SiO2 Buried Layer Removal from Si-SiO2-Si and Si-SiO2-SiC Bonded Substrates by Annealing in Ar |
| Auteur: |
Li, L.-G. Rubino, S. Vallin, Ö. Olsson, J. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 43 (2013) nr. 2 pagina's 541-547 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |