|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of Electromigration on the Creep and Thermal Fatigue Behavior of Sn58Bi Solder Joints |
| Auteur: |
Zuo, Yong Ma, Limin Guo, Fu Qiao, Lei Shu, Yutian Lee, Andree Subramanian, K. N. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 43 (2014) nr. 12 pagina's 4395-4405 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |