|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative Studies of the Growth and Characterization of Germanium Epitaxial Film on Silicon (001) with 0° and 6° Offcut |
| Auteur: |
Lee, Kwang Hong Tan, Yew Heng Jandl, Adam Fitzgerald, Eugene A. Tan, Chuan Seng |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 42 (2013) nr. 6 pagina's 1133-1139 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |