|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of Plasma Etching Process Damage in HgCdTe |
| Auteur: |
Gaucher, A. Baylet, J. Rothman, J. Martinez, E. Cardinaud, C. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 42 (2013) nr. 11 pagina's 3006-3014 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |