|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Mesa Dislocation Gettering in HgCdTe/CdTe/Si(211) by Scanning Transmission Electron Microscopy |
| Auteur: |
Jacobs, R. N. Stoltz, A. J. Benson, J. D. Smith, P. Lennon, C. M. Almeida, L. A. Farrell, S. Wijewarnasuriya, P. S. Brill, G. Chen, Y. Salmon, M. Zu, J. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 42 (2013) nr. 11 pagina's 3148-3155 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |