|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
Dislocation Analysis in (112)B HgCdTe/CdTe/Si |
| Auteur: |
Benson, J. D. Farrell, S. Brill, G. Chen, Y. Wijewarnasuriya, P. S. Bubulac, L. O. Smith, P. J. Jacobs, R. N. Markunas, J. K. Jaime-Vasquez, M. Almeida, L. A. Stoltz, A. Lee, U. Vilela, M. F. Peterson, J. Johnson, S. M. Lofgreen, D. D. Rhiger, D. Patten, E. A. Goetz, P. M. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 40 (2011) nr. 8 pagina's 1847-1853 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |