|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative and Depth-Resolved Investigation of Deep-Level Defects in InGaN/GaN Heterostructures |
| Auteur: |
Armstrong, A. Crawford, M. H. Koleske, D. D. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 40 (2010) nr. 4 pagina's 369-376 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |